微量痕量紫外分光光度計(jì)754型紫外可見分光光度計(jì)
1 采用微處理機(jī)控制技術(shù)，在紫外可見光譜區(qū)域?qū)ξ镔|(zhì)做定性、定量分析，是常規(guī)實(shí)驗(yàn)室*的多用 途分析儀器，廣泛應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生、臨床檢驗(yàn)、生物化學(xué)、石油化工、環(huán)境保護(hù)、質(zhì)量控制等大專 院 校、教學(xué)實(shí)驗(yàn)室部門。
2 采用1200條/mm高性能紫外光柵、進(jìn)口鎢燈、大規(guī)模集成數(shù)字電路、新型的單色器結(jié)構(gòu)使儀器 更加穩(wěn)定可靠。
3 自動(dòng)調(diào)0%，調(diào)100%，T、A的*轉(zhuǎn)換使用簡便。
4 超大的樣品室，可選購放置zui大100mm比色皿，特別適合電廠、糖廠進(jìn)行微量分析。
5 提供RS232接口，可連接計(jì)算機(jī)或者直接連接打印機(jī)。
型號(hào) | 754型紫外可見分光光度計(jì) |
單色器系統(tǒng) | Czerny-Turner 單光束光柵 1200 L/mm |
波長范圍 | 195-1020nm |
波長設(shè)置 | 手動(dòng) |
波長誤差 | ±2nm |
波長重復(fù)性 | 1nm |
測(cè)量范圍 | 0-199．9%T, 0-2.0A, 0-1999C(0-1999F) |
測(cè)光精度 | ≤0.5%T |
測(cè)光重復(fù)性 | ≤0.2%T |
雜散光 | ≤0.3%T@340nm&220nm |
帶寬 | 4 nm |
數(shù)據(jù)輸出 | RS-232，含軟件包可接電腦 |
重量 | 10kg |
LCD | 0.8" 4 data |
UV754紫外可見分光光度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)配置
3.1 UV754紫外可見分光光度計(jì)主機(jī)
3.2 石英比色皿一盒(10×10mm，2只)
3.3 玻璃比色皿一盒（10×10mm，4只）
3.4 保修卡一份
3.5 電源線一根
3.6 使用說明書一本
3.7 檢驗(yàn)合格證一份
3.8 軟件光盤 一盒
3.9 軟件操作說明書
3.10 數(shù)據(jù)連接線 一根
UV754紫外可見分光光度計(jì)可選配置
4.1 20-50mm矩形比色池 （采購前可以先提前告之，可免費(fèi)換成50MM比色架）
閔行區(qū)聯(lián)曹路552號(hào)1號(hào)樓3樓
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